Сканирующие электронные микроскопы

Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).

Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

Новинка 2018 года!

Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific  -  это многофункциональный СЭМ для многоцелевых  лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.

Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для  исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.

Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ/SEM) с анализатором EDX Explorer 4 можно назвать лучшим решением для операций, направленных на улучшение производственных процессов с целью повышения качества, оптимизации производственного процесса, анализа отказов и рентабельности. 

Explorer 4 предоставляет полную морфологическую и химическую характеристику любого интересующего объекта – в случае потребности в быстрой и неразрушающей характеристике включений, пор или частиц. 

Система на базе СЭМ для получения высококачественных данных о трехмерной структуре образца (3D), полученных на основе большого объема выборок с высоким разрешением и хорошей изотропностью.