По всей России
Москва
Санкт-Петербург
пн-пт  10:00 - 19:00
По всей России
Москва
Санкт-Петербург

Physical Electronics (PHI) - группа компаний ULVAC-PHI

Компания Physical Electronics (США) - подразделение корпорации ULVAC-PHI (Япония), всемирно известный разработчик и производитель уникального по своим характеристикам оборудования для проведения анализа поверхности: оже-микроскопии, масс-спектрометрии, сканирующей рентгеновской электронной спектроскопии, анализа элементного и химического состава поверхностных слоев твердотельных образцов, наноструктур, тонких пленок и веществ на границах раздела и др.

История компании PHI насчитывает более полувека, и все эти годы специализация научно-технических разработок компании находилась в области ожэ-сканирующей микроскопии и физической электроники. Инновационные технологии XPS, AES и SIMS, реализованные в анализаторах, спектрометрах и других системах анализа поверхностей PHI, позволяют решать сложнейшие современные исследовательские задачи и ускорять разработку новых материалов и продуктов.

Оборудование Physical Electronics (PHI) успешно применяется для сверхвысокочастотного анализа поверхностей при исследованиях и разработках передовых материалов в таких высокотехнологичных областях, как нанотехнологии, микроэлектроника, разработка и анализ носителей информации, биомедицина и исследование таких материалов, как металлы, полимеры и покрытия.

В каталоге оборудования PHI представлены следующие аналитические системы:

  • PHI 710 – система сканирующей ожэ-микроскопии (технология AES);
  • nanoTOF II- система тандемной времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (технология TOF-SIMS, ВИМС);
  • VersaProbe III - cистема сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS, ESCA, РФЭС);
  • Quantes - cистема сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS/HAXPES, ESCA, РФЭС);
  • Quantera II - cистема сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS, ESCA, РФЭС);
  • другие анализаторы поверхностей и спектрометры.
ПЕРЕЙТИ В КАТАЛОГ СИСТЕМ ДЛЯ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТЕЙ PHI >>>