По всей России
Москва
Санкт-Петербург
пн-пт  10:00 - 19:00
По всей России
Москва
Санкт-Петербург

Новости науки и техники, выпуск №10-2020


ЗДРАВСТВУЙТЕ, ДОРОГИЕ ДРУЗЬЯ!

Уважаемые коллеги!

В сегодняшнем выпуске новостей Вы узнаете:

Подробности см.ниже:

ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
Tektronix TBS2000B - новый осциллограф начального уровня
В конце лета компания Tektronix анонсировала новый цифровой осциллограф TBS1000C. Это недорогая серия осциллографов начального уровня. Новые осциллографы представлены 4 моделями с полосой пропускания от 50 до 200 МГц. Осциллографы данной серии имеют 7-дюймовый цветной дисплей WVGA и частоту дискретизации до 1 Гвыб./с. Серия TBS1000C снабжена справочной системой HelpEverywhere, которая дает полезные советы по интерфейсу, повышая доступность прибора для новых пользователей.
Решения Anapico для тестирования квантовых компьютеров
В процессе разработки квантовых компьютеров на этапе тестирования требуются многоканальные генераторы от 40 ГГц с возможностью выполнить импульсную модуляцию в широкой полосе частот. Для этого подходят аналоговые и векторные многоканальные генераторы сигналов AnaPico серий MCSG-Х и RFSVG-X. Преимуществом серии MCSG-Х является возможность масштабирования системы до 200 и более каналов с сохранением показателя ошибки по фазе не более 5 млрд.
АНАЛИТИКА, ИССЛЕДОВАНИЯ
Helios 5 UX Thermo Scientific- двулучевой микроскоп для анализа отказов
Новейшие технологии, реализованные в электронно-лучевом микроскопе Helios 5 UX Thermo Fisher Scientific, позволяют осуществлять аккуратную поэтапную подготовку ламелей для высокоразрешающих С/ПЭМ и получать высококачественные изображения для 3D-анализа сложных образцов. Максимально быстрая, простая и точная подготовка образцов обеспечивается ионной колонной Thermo Fisher Scientific Phoenix™, оптимизированной для работы при низких ускоряющих напряжениях.
Применение АСМ Nanoview1000 в анализе отказов
Атомно-силовой микроскоп - один из важнейших инструментов в поиске неисправностей при анализе отказов. АСМ постоянно модифицируются, специализируясь для решения более узких и профильных задач. В данной статье представлено два примера применения АСМ для анализа отказов:
- C-AFM - потоковый анализ в наноразмерных полупроводниковых приборах;
- Дифференциальная C-AFM для анализа отказов полупроводниковых схем.
ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
Факс: +7 (495) 204-13-17
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru