ResiScope II – система измерения электрических характеристик для АСМ
В сегодняшней статье речь пойдет о дополнительных возможностях атомно-силовых микроскопах, а именно о дополнительных системах для АСМ, при помощи которых можно проводить высоко прецизионные электрические измерения.
Компания CSI Instruments - французский производитель атомно-силовых микроскопов и дополнительного оборудования для АСМ - разработала новую систему ResiScope II для проведения электрических измерений на атомно-силовом микроскопе Nano Observer.
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением. Этот модуль можно комбинировать с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) для получения различной информации от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда.
ResiScope II - это уникальная система, способная измерять сопротивление в диапазоне 10 порядков с высокой чувствительностью и разрешением. Измерения производятся с помощью постоянного тока, протекающего между образцом и приводящим зондом АСМ. Зонд сканирует в контактном режиме с помощью отклонения лазерного луча для обратной связи АСМ. В качестве независимого измерителя, ResiScope II измеряет сопротивление образца через высокопроизводительный усилитель (HPA).
Комбинируя этот модуль с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) Вы получите различную информацию от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда. Таким образом, Вы сможете получить несколько характеристик образца в одной и той же области сканирования.
Принцип работы системы ResiScope
Характеристики и возможности системы ResiScope
ResiScope - это двойная измерительная система, которая имеет следующие отличительные характеристики и возможности:
Области применения:
- Фотоэлектрические приборы
- Полупроводники
- Диагностика оксидов
- Диагностика проводящих материалов
Технические характеристики
|
Диапазон сопротивлений |
От 10² Ом до 1012 Ом |
|
Диапазон тока |
От 50 фA до 1 мA |
|
Совместимость с АСМ |
CSInstruments: Nano-Observer |
|
Режимы, совместимые с АСМ |
Contact / Tapping / AC mode EFM / MFM / KFM single-pass |
|
Окружающая среда |
Windows® XP. 7, 8, 10, SP3 Framework DotNet 3.5 SP1 |
|
Питание |
AC 100‐240 В, 47‐63 Гц, 1 A |
|
Вес |
2 кг |
Награды ResiScope II
- 2014 : «Yves Rocard 2014 » Prize (Société Française de physique) rel="nofollow"
- 2013 : Applied Research FIEEC at «Rendez-Vous Carnot 2013»
Если Вас заинтересовало данное оборудование, обращайтесь в нашу компанию. Наши специалисты расскажут подробно об атомно-силовых микроскопах CSI Instruments и сориентируют Вас по ценам на продукцию.
ПОДРОБНЕЕ ОБ АСМ NANOOBSERVER>>
